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    腐蝕卡上的銅的方法

    放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2009-04-27   作者:佚名
    銅之家訊:申請?zhí)?專利號: 02817658本發(fā)明通過在陰極(102)和卡(42)之間施加電壓,借此使卡(42)構(gòu)成陽極,實(shí)現(xiàn)對卡上的銅的腐蝕。陰極(102)和卡(42)浸沒在電解液中,該電

    申請?zhí)?專利號: 02817658 本發(fā)明通過在陰極(102)和卡(42)之間施加電壓,借此使卡(42)構(gòu)成陽極,實(shí)現(xiàn)對卡上的的腐蝕。陰極(102)和卡(42)浸沒在電解液中,該電解液包括第一組分,其可以從處于離子態(tài)的第一狀態(tài),該離子具有第一正氧化數(shù)的金屬原子,還原為處于離子態(tài)的第二狀態(tài),該離子具有第二正氧化數(shù)的所述金屬原子,第二正氧化數(shù)小于所述第一正氧化數(shù)。電解液中用于將第一狀態(tài)還原為第二狀態(tài)的第一氧化還原電勢大于電解液中用于將二價(jià)銅離子還原為金屬銅的第二氧化還原電勢。在腐蝕期間,卡上的金屬銅被氧化為帶正電的銅離子,而第一組分從第一狀態(tài)還原為第二狀態(tài)。因?yàn)闆]有金屬銅沉淀在陰極上,從而改良了卡上腐蝕結(jié)構(gòu)的品質(zhì)。

    申請日: 2002年09月09日
    公開日: 2004年12月08日
    授權(quán)公告日:
    申請人/專利權(quán)人: 奧博杜卡特股份公司
    申請人地址: 瑞典馬爾默
    發(fā)明設(shè)計(jì)人: 約蘭·弗倫內(nèi)松;古斯特·比寧斯;比亞爾尼·比亞爾納松;珍妮·舍貝里
    專利代理機(jī)構(gòu): 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會專利商標(biāo)事務(wù)所
    代理人: 王永剛
    專利類型: 發(fā)明專利
    分類號: C25F3/02;C25F7/00;H05K3/07

    以上信息僅供參考

     
     
     
     

     

     
     
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